自动探头系统
专为高压设计和大电流应用
•晶圆上高功率器件测量高达10kV/600A
•镀金卡盘表面,接触电阻最小
以及为薄片处理而优化的真空孔低至50µm
•Taiko晶圆卡盘选项
•专用高压和高电流探头
•防电弧解决方案
•晶圆上高功率器件测量高达10kV/600A
•镀金卡盘表面,接触电阻最小
以及为薄片处理而优化的真空孔低至50µm
•Taiko晶圆卡盘选项
•专用高压和高电流探头
•防电弧解决方案
专为高压设计和大电流应用
•晶圆上高功率器件测量高达10kV/600A
•镀金卡盘表面,接触电阻最小
以及为薄片处理而优化的真空孔低至50µm
•Taiko晶圆卡盘选项
•专用高压和高电流探头
•防电弧解决方案
MPI屏蔽环境™ 用于精确测量
•专为高级EMI/RFI/光密屏蔽而设计
•fA低泄漏能力
•可在-60°C至300°C的温度范围内使用
人体工程学设计与安全
•正面和高级自动化单晶片侧面装载
具有自动例程的简单预校准功能
•监管部门批准的安全联锁光幕
保护用户
•集成主动隔振
•完全集成的探测器控制,实现更快、更安全和
方便的系统和测试操作
•安全测试管理(STM™) 加载选项/
在任何卡盘温度和自动露点条件下卸载晶圆点控制


