高频噪声模拟试验器

有这样一种情况，开关设备接点间的放电等由感性负载的通断以及电子马达所产生的电弧放电，从而导致的偶发性的上升时间极快的高频噪声的发生。
这些噪声通过电源线直接传导到电子设备的内部，或是通过附近／并行的信号线以诱导的方式进行侵入，耦合到电子设备的回路或是基板上，产生反射、共振、增强等现象，从而使得电子机器内部的IC等出现误动作。
噪声研究所的INS系列以及FNS系列，就是模拟产生这类噪声的，用来评价电子设备的抗扰度・性能的试验器。
FNS系列满足IEC（国际电气标准会议）所制定的IEC 61000-4-4 EFT/B试验标准。
INS系列满足日本的NECA（日本电气控制工业会）以及JEMA（日本电机工业会）等所发行的几个不同的标准。

两者都是针对电源线、信号线施加高频噪声的试验。使用FNS设备也就是做EFT/B试验的时候，如图所示，由于想定的是从平行的线缆处耦合噪声，因此标准中只规定了以共模耦合方式施加噪声。但是在现实中，如图所示，除开线缆与线缆间的诱导耦合，还有机器内的接点放电现象，开关间产生的噪声等都会通过线缆直接在EUT的线间以差模耦合的方式注入。

EFT/B的噪声，实际上是模拟了诱导性负载的接点间所发生的锯齿波状的噪声。而高频噪声是以人为制造的脉冲为噪声源，拥有接近ESD（静电放电）领域的高频成分。并且还有着差模耦合模式这一能够在任意线间施加噪声的方式，所以能够再现市场上实际出现问题，从而实现更加准确的噪声对策评价。