元件参数与材料电特性测试方案

1.半导体器件 IV/CV/快速脉冲/高压脉冲测试
   测试对象: CMOS, BJT, ROM, Flash,纳米器件,分离元件,光伏器件,功率器件, NBTI/PBTI
2.针对MEMS传感器的恒流源，微弱信号采集
3.传感器及分离元件的阻抗(LCR) 测试
 

4.材料介电常数测试:
   基于矢量网络分析仪，结合传输反射法、自由空间法、微扰法、谐振腔法、介质谐振器法、准光腔法等进行测试
5.测试IC基片、封装、铁氧体、液晶材料、涂料、吸波材料、绝缘材料等对象
6.半导体在片测试:手动、半自动、全自动探针台

   高压、数字、射频探针